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闪烁余辉测量系统

闪烁余辉测量系统

发布时间:2016-3-15

YL-ScinAF05B 是本公司研制的一款高精密余辉测量系统。本仪器采用 X 光源为激发源

(脉冲与连续两种模式),进口高增益、低噪声光电倍增管为光电探测器,采用高速 ADC FPGADSP 技术设计实现高速准确的数据采集。采用 USB 接口实现系统与计算机的测 试数据和控制数据的传输。采用 VC 可视化软件编程,实现多种采集模式,实时显示仪 器的各种参数;根据余辉测量的特点,对实验曲线进行拟合,得到材料缺陷结构、余辉 性能等各种参数。它以计算机为控制中心,测试过程完全实现自动化。仪器建立一套评 价闪烁材料(包括无机闪烁晶体、闪烁陶瓷、闪烁薄膜)余辉性能的测试系统,用于相 关闪烁材料余辉性能的量化表征;为研发低余辉闪烁材料及器件提供重要技术支撑。本 仪器采用最新模块化设计,质量可靠,造形美观,使用方便,温度控制稳定精确,涉及 多项专利技术。余辉测量时间范围:5 微秒~1000 毫秒;

l    余辉测量动态范围:1104

l    波长测量范围:200900nm

l    脉冲 X 源下降沿短于 50 纳秒;连续 X 源下降沿小于 3 毫秒;

l    仪器标配固体品品台和粉末、液体样品台,可测量包括晶体、陶瓷、粉末以及液体闪 烁材料;

l    仪器采用 PC 控制、实现整个测试系统的高压加载、校准、激发、数据采集、存储等 功能的实时与自动化控制。

l    提供配套的热释光分析软件,内置热释光一级、二级、一般级动力学模型,并可进一 步对发光曲线进行拟合、解谱分析等